材料分析物理方法
ISBN:978-7-5024-9007-2
作者:张静武(编著)
出版时间:2022年1月
图书定价:29元
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普通高等教育“十四五”规划教材
内容简介
本书总结了研究微观形貌、元素、结构与缺陷、原子识别等的主要现代方法,包括:高分辨电镜、分析型电镜、场离子显微镜和三维原子探针、俄歇谱仪和X射线光电子谱仪、扫描隧道显微镜和原子力显微镜,各章节的内容按照原理—结构—应用3个层面叙述。
目录
1 材料电子显微分析的基础方法
1.1 高能电子束与固态物质的相互作用
1.2 透射电子显微镜
1.3 扫描电子显微镜
1.4 X射线能谱仪
1.5 背散射电子衍射
2 高分辨电子显微镜
2.1 概述
2.2 电子显微镜相位衬度
2.3 透射电子显微镜分辨本领
2.4 高分辨像观察
2.5 高分辨像观察与分析的一般方法
3 分析型电子显微镜
3.1 分析型电子显微镜的工作原理与结构
3.2 STEM的电子衍射
3.3 STEM散射电子的高角环形暗场像
3.4 STEM EELS分析
3.5 能量过滤像
4 场离子显微镜和三维原子探针
4.1 场离子显微镜
4.2 三维原子探针
5 俄歇电子能谱仪和X射线光电子能谱仪
5.1 俄歇电子能谱仪
5.2 X射线光电子能谱仪
6 扫描隧道显微镜和原子力显微镜
6.1 扫描隧道显微镜
6.2 原子力显微镜
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